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JTAG Live Controller / JL004 | USBタイプ バウンダリ スキャン コントローラー

USBタイプのバウンダリスキャンコントローラー
JTAG Live Controllerは、USB給電タイプの軽量、かつ、ポケットサイズの、ローコストなバウンダリスキャンコントローラーです。
シングルTAP(テストアクセスポート)はJTAG規格に準拠しており、TAP電圧は1.5V~3.6Vまで、 テストクロック周波数は 1KHz から最大で 6MHz と幅広いプログラムが可能で、ハードウェア開発における様々なテスト上の問題を解決するために役立ちます。

無料の JTAG Live Buzz ユーティリティをはじめ、JTAG ProVision、JTAG Live Studioなど、すべてのJTAG Technologiesの開発者ツールと互換性があります。

検索キーワード:
(Test Access Port / IEEE 1149.1 / バウンダリ・スキャン・コントローラー /
JTAG Live コントローラ)



メーカー
JTAG Technologies
https://www.jtag.com/

JTAG Live Controller / JL004 | USBタイプ バウンダリ スキャン コントローラー の取り扱い商品の一例

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JTAG Live Controller 弊社より配送 お問い合わせください お問い合わせください
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JTAG Live Controller / JL004 | USBタイプ バウンダリ スキャン コントローラー の商品説明


【取り扱い製品の一例】


JTAG LIVE boundary-scan Controller (SKU: JL004) -詳細-

JTAG Live Controllerは、軽量 かつ ポケットサイズ(持ち運び可能な)、
ローコストのバウンダリスキャンコントローラーで、
JTAGテスト、PLDとFPGAコンフィグレーション、フラッシュプログラミング用に最適です。


【特徴】
- 1TAP(Test Access Port)搭載
- フレキシブルボードインターフェース向け
- JTAG規格に完全互換(IEEE 1149.1, IEEE 1149.6, IEEE 1149.4 and IEEE 1532)
- TAP電圧 ( 1.5V ~ 3.6V )
- TCK ( 1KHz ~ 6MHz )
- JTAGLiveソフトウェアProVisionの両方で使用可
- 推奨ピン配列図



JTAG LIVE boundary-scan Controller 外観写真(各画像クリックで拡大します)




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JTAG Live Buzz -詳細-


Buzzは、学びやすく、使いやすい、デバイスピンへの制限されたアクセスを克服するための
バウンダリスキャンの無料テスターです。(※別途ユーザー登録が必要)


【概要】
- 相互接続性テスト(導通)
- ピンの信号レベルをチェック

【特徴】
・ネットリストなしで動作
・最大で10接続テスト可
・単純なロジッククラスターをテスト可
- マルチバウンダリ スキャン チェーン をサポート
- スキャンチェーンインフラストラクチャテスト
- 「watch」ピンのサンプル機能含む
- ピンの間の連続性テスト
- Explorer / USB、Altera, Xilinxのマルチハードウェアをサポート


その他の JTAGLive ソフトウェアもお取り扱いいたします (詳細はこちら)


参考キーワード:
- TCK (クロック / Test Clock Input)
- TDI (データ入力 / Test Data Input)
- TDO (データ出力 / Test Data Output)
- TMS (状態制御 / Test Mode Select input)
- TRST (JTAG機能のリセット / Test RerSeT)
- PLD (Programmable Logic Device)
- FPGA (Field Programmable Gate Array)


動画

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    ご注文手続きはお見積もりメールへの返信のみでけっこうです。
  • 銀行振込:
    ご注文の返信メールをいただいた後、弊社指定の銀行口座へのお振込みを確認した時点で注文の確定とさせていただきます。

※法人掛売りでのお支払いについては一定の条件がございます
お支払い方法の詳細はお見積もりメールに記載しておりますので、ご確認ください。

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商品名 納品方法 納期 価格
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JTAG Live Controller / JL004 | USBタイプ バウンダリ スキャン コントローラー レビュー

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